一六 熒光測厚儀 十年以上研發團隊 集研發生產銷售一體
元素分析范圍:氯(ci)- -(u) 厚度分析范圍:各種元素及有機物
一次可同時分析:23層鍍層，鍍鋅測厚儀，24種元素 厚度檢出限:0.005um
用轉移法測量塑膠產品上涂層時注意事項：
由于對塑膠產品上涂層的測量，如使用超聲波發測量時，經常因涂層與基材發生相溶而沒有較好的聲波反射面，從而導致測量失敗或讀值-偏差。如使用切鍥法，也多有使用不方便和讀數困難的地方。所以目前便攜式電子產品生產廠普遍使用轉移法測量塑膠產品上涂層，先在產品上蓋若干小條標準厚度的聚酯薄膜，再用紙基美紋膠壓住兩頭，留出中間部分。將該產品放入噴涂線上正常噴涂、烘烤。
江蘇一六儀器 選擇x熒光光譜鍍層檢測儀的四個理由：
1、無損檢測
鍍層工藝的高要求，讓楔切法、光截法等傳統的破壞性檢測方法越來越不適用，市場上迫切需要一種快速、準確、無損的檢測方法，而x射線熒光光譜法無非是excellent鍍層無損檢測方法。
2、強化品質-
x熒光光譜鍍層檢測儀可以準確檢測鍍層的金屬含量及厚度等數據，這是做好電鍍品質-的前提。
3、提升生產力
傳統的檢測技術，既耗時又耗人力，而x熒光光譜鍍層檢測儀可以很大程度上解放勞動力，且檢測速度快、精度高，這對提高電鍍企業生產力、節約成本有很大幫助，從而帶來更多的經濟效益。
4、提升市場競爭力
x熒光光譜鍍層檢測儀不但可以幫助電鍍企業提升勞動生產力，也可以幫助電鍍企業在行業里保持excellent的競爭優勢。
一六 熒光測厚儀 十年以上研發團隊 集研發生產銷售一體
元素分析范圍:氯(ci)- -(u) 厚度分析范圍:各種元素及有機物
一次可同時分析:23層鍍層，24種元素 厚度檢出限:0.005um
江蘇一六儀器 x射線熒光測厚儀工作原理
當原子受到x射線光子(原級x射線)或其他微觀粒子的激發使原子內層電子電離而出現空位，測厚儀，原子內層電子重新配位，較外層的電子躍遷到內層電子空位，并同時放射出次級x射線光子，此即x射線熒光。較外層電子躍遷到內層電子空位所釋放的能量等于兩電子能級的能量差，因此，x射線熒光的波長對不同元素是特征的，鍍層測厚儀，根據元素x射線熒光特征波長對元素做定性分析，根據元素釋放出來的熒光強度，來進行定量分析如元素厚度或含量分析。
根據色散方式不同，x射線熒光分析儀相應分為x射線熒光光譜儀(波長色散)和x射線熒光能譜儀(能量色散)。x射線熒光光譜儀主要由激發、色散、探測、記錄及數據處理等單元組成。激發單元的作用是產生初級x射線。它由高壓發生器和x光管組成。后者功率較大，用水和油同時冷卻。色散單元的作用是分出想要波長的x射線。它由樣品室、狹縫、測角儀、分析晶體等部分組成。通過測角器以1∶2速度轉動分析晶體和探測器，可在不同的布拉格角位置上測得不同波長的x射線而作元素的定性分析。探測器的作用是將x射線光子能量轉化為電能，常用的有蓋格計數管、正比計數管、閃爍計數管、半導體探測器等。記錄單元由放大器、脈沖幅度分析器、顯示部分組成。通過定標器的脈沖分析信號可以直接輸入計算機，進行聯機處理而得到被測元素的含量。
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