江蘇一六儀器有限公司是一家-于光譜分析儀器研發、生產、銷售的高新技術企業。公司位于上海和蘇州中間的昆山市城北高新區。我們的研發團隊具備十年以上的從業經驗，經與海內外多名通力合作，研究開發出一系列能量色散x熒光光譜儀
x熒光涂鍍層測厚儀測試原理
同樣，l層電子被逐出可以產生l系輻射。如果入射的x 射線使某元素的k層電子激發成光電子后l層電子躍遷到k層，此時就有能量δe釋放出來，且δe=ek-el，這個能量是以x射線形式釋放，鍍鋅測厚儀，產生的就是kα 射線，同樣還可以產生kβ射線 ，l系射線等。莫斯萊(h.g.moseley) 發現，熒光x射線的波長λ與元素的原子序數z有關，其數學關系如下: λ=k(z-s)-2 這就是莫斯萊定律，式中k和s是常數，因此，只要測出熒光x射線的波長，就可以知道元素的種類，這就是熒光x射線定性分析的基礎。此外，熒光x射線的強度與相應元素的含量有一定的關系，錫膏測厚儀，據此，可以進行元素定量分析。
一六 熒光測厚儀 十年以上研發團隊 集研發生產銷售一體
元素分析范圍:氯(ci)- -(u) 厚度分析范圍:各種元素及有機物
一次可同時分析:23層鍍層，24種元素 厚度檢出限:0.005um
工業x射線鍍層厚度分析儀以其快速、無損、現場測量等優點，已在冶金、建材、地質、、商檢、考古、醫學等領域得到迅速推廣和應用。近幾年來x射線熒光儀已在工業鍍層及涂層厚度測量中應用越來越廣泛。眾所周知，測厚儀，產品和金屬元件表面鍍層或防腐層厚度是與產品與性能相關的重要指標。實驗表明使用同位素x射線熒光分析方法，能夠滿足工業鍍層和涂層厚度的分析要求，并且具有無損、在線、簡便快速、可實現自動控制等特點。
一六 熒光測厚儀 十年以上研發團隊 集研發生產銷售一體
元素分析范圍:氯(ci)- -(u) 厚度分析范圍:各種元素及有機物
一次可同時分析:23層鍍層，24種元素 厚度檢出限:0.005um
一、外部結構原理圖
x熒光做鍍層分析時，根據射線是而下照射樣品，還是至下而上照射樣品的方式，將x熒光分析儀的外部整體結構分為：上照射和下照射兩種結構。
二、各種外部結構的特點
1、上照射方式
用于照射(激發)的x射線是采用由上往下照射方式的設備稱為上照射儀器。此類設備的z軸為可移動方式，用于確定射線照射光斑的焦點，-測量的準確性。
、z軸的移動方式
根據z軸的移動方式，分為自動和手動兩類；
自動型的設備完全由程序與自動控制裝置實現，鋼板測厚儀，其光斑對焦的重現性與準確度都-，而且使用非常簡便一般是與圖像采集系統與控制系統相結合的方式，一般只需要用鼠標在圖像上---一下即可定位。此類設備對于測試形狀各異的樣品非常方便，也是目前主流的分析設備類型。
手動型設備，一般需要用人觀察圖像的方式，根據參考斑點的位置，手動上下調節z軸方向，以達到準確對焦的目的。因此，往往在測試對象幾何結構基本上沒有變化的情況下使用比較快捷。、x、y軸水平移動方式
水平移動方式一般分為：無x、y軸移動裝置；手動x、y軸移動裝置；電動x、y軸移動裝置；全程控自動x、y軸移動裝置。
這幾類的設備都是根據客戶實際需要而設計的，例如：使用無x、y軸移動裝置的也很多，結構簡單，樣品水平移動完全靠手動移動，這種設備適合于樣品面積較大，定位比較容易的測試對象。
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