江蘇一六儀器 x射線熒光光譜測厚儀 -同時分析：23層鍍層，24種元素
厚度di檢出限：0.005um
-勢
精密的三維移動平臺
-的樣品觀測系統(tǒng)
的圖像識別
輕松實現(xiàn)深槽樣品的檢測
四種微孔-準直器，自動切換
雙重保護措施，實現(xiàn)無縫防撞
采用大面積高分辨率探測器，有效降低檢出限，提高測試精度
全自動智能控制方式，一鍵式操作!
開機自動退出自檢、復位
開蓋自動退出樣品臺，升起z軸測試平臺，方便放樣
關蓋推進樣品臺，下降z軸測試平臺并自動完成對焦
直接---全景或局部景圖像選取測試點
---軟件界面測試按鈕，自動完成測試并顯示測試結果
江蘇一六儀器 x射線熒光光譜儀xtu/x-ray系列
技術參數(shù)
x射線裝置：w靶微-加強型射線管
準直器φ 0.05 mm ；φ 0.1 mm；φ 0.2 mm；φ 0.5 mm； 準直器任意選擇或者任意切換
近測距光斑擴散度：9%
測量距離：具有距離補償功能，可改變測量距離，能測量凹凸異型樣品，變焦距離0-30mm(特殊要求可以升級到90mm)
樣品觀察：1/2.5彩色ccd，變焦功能對焦方式高敏感鏡頭，手動對焦
放大倍數(shù)：光學38-46x，數(shù)字放大40-200倍
隨機標準片：十二元素片、ni/fe 5um、au/ni/cu 0.1um/2um
其它附件：聯(lián)想電腦一套、噴墨打印機、附件箱
一六 熒光測厚儀 十年以上研發(fā)團隊 集研發(fā)生產銷售一體
元素分析范圍:氯(ci)- -(u) 厚度分析范圍:各種元素及有機物
一次可同時分析:23層鍍層，24種元素 厚度檢出限:0.005um
xiao測量面積0.002m㎡ 深凹槽20mm以上鍍層厚度分析儀測量原理與儀器
一． 磁吸力測量原理鍍層厚度分析儀
磁鐵測頭與導磁鋼材之間的吸力大小與處于這兩者之間的距離成一定比例關系，這個距離就是覆層的厚度。利用這一原理制成測厚儀，只要覆層與基材的導磁率之差足夠大，就可進行測量。鑒于大多數(shù)工業(yè)品采用結構鋼和熱軋冷軋鋼板沖壓成型，所以磁性測厚儀應用廣。測厚儀基本結構由磁鋼，涂鍍層測厚儀，接力簧，標尺及自停機構組成。磁鋼與被測物吸合后，將測量簧在其后逐漸拉長，拉力逐漸增大。當拉力剛好大于吸力，磁鋼脫離的一瞬間記錄下拉力的大小即可獲得覆層厚度。新型的產品可以自動完成這一記錄過程。不同的型號有不同的量程與適用場合。這種儀器的特點是操作簡便、堅固-、不用電源，測量前無須校準，價格也較低，很適合車間做現(xiàn)場控制。
二． 磁感應測量原理鍍層厚度分析儀
采用磁感應原理時，利用從測頭經(jīng)過非鐵磁覆層而流入鐵磁基體的磁通的大小，來測定覆層厚度。也可以測定與之對應的磁阻的大小，來表示其覆層厚度。覆層越厚，則磁阻越大，磁通越小。利用磁感應原理的測厚儀，原則上可以有導磁基體上的非導磁覆層厚度。一般要求基材導磁率在500以上。如果覆層材料也有磁性，則要求與基材的導磁率之差足夠大如鋼上鍍鎳。當軟芯上繞著線圈的測頭放在被測樣本上時，儀器自動輸出測試電流或測試信號。早期的產品采用指針式表頭，測量感應電動勢的大小，儀器將該信號放大后來指示覆層厚度。近年來的電路設計引入穩(wěn)頻、鎖相、溫度補償?shù)鹊匦录夹g，利用磁阻來調制測量信號。還采用設計的集成電路，引入微機，使測量精度和重現(xiàn)性有了大幅度的提高幾乎達一個數(shù)量級。現(xiàn)代的磁感應測厚儀，分辨率達到0.1um，允許誤差達1%，量程達10mm。磁性原理測厚儀可應用來測量鋼鐵表面的油漆層，瓷、搪瓷防護層，塑料、橡膠覆層，包括鎳鉻在內的各種有色金屬電鍍層，以及化工石油待業(yè)的各種防腐涂層。
三． 電渦流測量原理鍍層厚度分析儀
高頻交流信號在測頭線圈中產生電磁場，測頭靠近導體時，就在其中形成渦流。測頭離導電基體愈近，則渦流愈大，反射阻抗也愈大。這個反饋作用量表征了測頭與導電基體之間距離的大小，也就是導電基體上非導電覆層厚度的大小。由于這類測頭專門測量非鐵磁金屬基材上的覆層厚度，所以通常稱之為非磁性測頭。非磁性測頭采用高頻材料做線圈鐵芯，鋼板測厚儀，例如鉑鎳合金或其它新材料。與磁感應原理比較，主要區(qū)別是測頭不同，信號的頻率不同，信號的大小、標度關系不同。與磁感應測厚儀一樣，渦流測厚儀也達到了分辨率0.1um，測厚儀，允許誤差1%，量程10mm的高水平。
采用電渦流原理的測厚儀，鍍層測厚儀，原則上對所有導電體上的非導電體覆層均可測量，如航天-表面、車輛、家電、鋁合金門窗及其它鋁制品表面的漆，塑料涂層及陽極氧化膜。覆層材料有一定的導電性，通過校準同樣也可測量，但要求兩者的導電率之比至少相差3-5倍如銅上鍍鉻。雖然鋼鐵基體亦為導電體，但這類任務還是采用磁性原理測量較為合適。
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