放射化學、放化純度、
用于γ、β和α射線標記的放射---1物的薄層色譜分析。
寬探測范圍適用于大部分應用
可用于tlc和hplc系統
簡單的系統安裝和維護。
規格與技術參數：
輸出：0－1v
平板面積：5×20cm
范圍：20，200，2000，放射性薄層掃描儀廠家，20000
大�。�36×24×30cm
高壓：0－1000v
重量：8kg探測：0.1，0.25，1.0，2.0mm/s
電源：110/220v(50/60hz)
配置：主機+β探頭適用于14c檢測
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薄層色譜法簡稱tlc，浙江放射性薄層掃描儀，是在50年代從-柱色譜法和紙色譜法基礎上發展起來的一種色譜技術。60年代后，人們對薄層色譜法的標準化、規范化及擴大應用等方面進行了許多工作，使該方法日趨成熟。現已成為現代有機合成、高分子材料分離與解析的重要方法。結合柱分離的薄層色譜技術能夠具有充分的實戰意義。
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柱色譜法的實驗條件，例如選用什么吸附劑和洗脫劑較好，各個組分按什么順序從柱中洗脫出來，每一分洗脫液中是含單一組分或就含幾種沒有分開的組分等，都可以在薄層上進行探索和檢驗。薄層上所有的展開劑雖不完全照搬柱色譜法上，但仍有參考價值。
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