一六 熒光測厚儀 十年以上研發(fā)團(tuán)隊(duì) 集研發(fā)生產(chǎn)銷售一體
元素分析范圍:氯(ci)- ---(u) 厚度分析范圍:各種元素及有機(jī)物
一次可同時(shí)分析:23層鍍層，24種元素 厚度檢出限:0.005um
一、外部結(jié)構(gòu)原理圖
x熒光做鍍層分析時(shí)，根據(jù)射線是而下照射樣品，還是至下而上照射樣品的方式，將x熒光分析儀的外部整體結(jié)構(gòu)分為：上照射和下照射兩種結(jié)構(gòu)。
二、各種外部結(jié)構(gòu)的特點(diǎn)
1、上照射方式
用于照射(激發(fā))的x射線是采用由上往下照射方式的設(shè)備稱為上照射儀器。此類設(shè)備的z軸為可移動(dòng)方式，用于確定射線照射光斑的焦點(diǎn)，---測量的準(zhǔn)確性。
、z軸的移動(dòng)方式
根據(jù)z軸的移動(dòng)方式，分為自動(dòng)和手動(dòng)兩類；
自動(dòng)型的設(shè)備完全由程序與自動(dòng)控制裝置實(shí)現(xiàn)，其光斑對(duì)焦的重現(xiàn)性與準(zhǔn)確度都---，而且使用非常簡便一般是與圖像采集系統(tǒng)與控制系統(tǒng)相結(jié)合的方式，一般只需要用鼠標(biāo)在圖像上---一下即可定位。此類設(shè)備對(duì)于測試形狀各異的樣品非常方便，也是目前主流的分析設(shè)備類型。
手動(dòng)型設(shè)備，光譜膜厚儀，一般需要用人觀察圖像的方式，根據(jù)參考斑點(diǎn)的位置，手動(dòng)上下調(diào)節(jié)z軸方向，以達(dá)到準(zhǔn)確對(duì)焦的目的。因此，往往在測試對(duì)象幾何結(jié)構(gòu)基本上沒有變化的情況下使用比較快捷。、x、y軸水平移動(dòng)方式
水平移動(dòng)方式一般分為：無x、y軸移動(dòng)裝置；手動(dòng)x、y軸移動(dòng)裝置；電動(dòng)x、y軸移動(dòng)裝置；全程控自動(dòng)x、y軸移動(dòng)裝置。
這幾類的設(shè)備都是根據(jù)客戶實(shí)際需要而設(shè)計(jì)的，例如：使用無x、y軸移動(dòng)裝置的也很多，結(jié)構(gòu)簡單，樣品水平移動(dòng)完全靠手動(dòng)移動(dòng)，這種設(shè)備適合于樣品面積較大，定位比較容易的測試對(duì)象。
一六儀器 測厚儀 多道脈沖分析采集，---efp算法 x射線熒光鍍層測厚儀
應(yīng)用于電子元器件，led和照明，家用電器，通訊，汽車電子領(lǐng)域.efp算法結(jié)合---定位決了各種大小異形多層多元素的涂鍍層厚度和成分分析的業(yè)界難題
軟件算法
?大致分為3個(gè)方法。一個(gè)是制作測量線的方法經(jīng)驗(yàn)系數(shù)法。這個(gè)方法是測定幾點(diǎn)實(shí)際的已知厚度樣品，尋求想測定元素的熒光x射線強(qiáng)度和厚度之間的關(guān)系，以其結(jié)果為基礎(chǔ)測定未知樣品取得熒光x射線，從而得到濃度值。
?另一個(gè)方法是理論演算的基礎(chǔ)參數(shù)法fp法。這個(gè)方法在完全了解樣品的構(gòu)成和元素種類前提，利用計(jì)算的各個(gè)熒光x射線強(qiáng)度的理論值，推測測定得到未知樣品各個(gè)元素的熒光x射線強(qiáng)度的組成一致。
?nbs-gsc法也稱作理論alpha系數(shù)法。它是基于熒光x射線激發(fā)的基本原理，熒光測厚儀，從理論上使用基本物理參數(shù)計(jì)算出樣品中每個(gè)元素的一次和二次特征x射線熒光強(qiáng)度的。基于此再計(jì)算lachance綜合校正系數(shù)，測厚儀，然后使用這些理論α系數(shù)去校正元素間的吸收增強(qiáng)。它與經(jīng)驗(yàn)系數(shù)法不同，這些校正系數(shù)是從“理論”上取得的，而非建立在“經(jīng)驗(yàn)”上。因而它也不需要那么多的標(biāo)樣，只要少數(shù)標(biāo)樣來校準(zhǔn)儀器因子。一六 熒光測厚儀 十年以上研發(fā)團(tuán)隊(duì) 集研發(fā)生產(chǎn)銷售一體
元素分析范圍:氯(ci)- ---(u) 厚度分析范圍:各種元素及有機(jī)物
一次可同時(shí)分析:23層鍍層，24種元素 厚度檢出限:0.005um
xiao測量面積0.002m㎡ 深凹槽20mm以上鍍層厚度分析儀測量原理與儀器
一． 磁吸力測量原理鍍層厚度分析儀
磁鐵測頭與導(dǎo)磁鋼材之間的吸力大小與處于這兩者之間的距離成一定比例關(guān)系，這個(gè)距離就是覆層的厚度。利用這一原理制成測厚儀，只要覆層與基材的導(dǎo)磁率之差足夠大，鍍層測厚儀，就可進(jìn)行測量。鑒于大多數(shù)工業(yè)品采用結(jié)構(gòu)鋼和熱軋冷軋鋼板沖壓成型，所以磁性測厚儀應(yīng)用廣。測厚儀基本結(jié)構(gòu)由磁鋼，接力簧，標(biāo)尺及自停機(jī)構(gòu)組成。磁鋼與被測物吸合后，將測量簧在其后逐漸拉長，拉力逐漸增大。當(dāng)拉力剛好大于吸力，磁鋼脫離的一瞬間記錄下拉力的大小即可獲得覆層厚度。新型的產(chǎn)品可以自動(dòng)完成這一記錄過程。不同的型號(hào)有不同的量程與適用場合。這種儀器的特點(diǎn)是操作簡便、堅(jiān)固---、不用電源，測量前無須校準(zhǔn)，價(jià)格也較低，很適合車間做現(xiàn)場控制。
二． 磁感應(yīng)測量原理鍍層厚度分析儀
采用磁感應(yīng)原理時(shí)，利用從測頭經(jīng)過非鐵磁覆層而流入鐵磁基體的磁通的大小，來測定覆層厚度。也可以測定與之對(duì)應(yīng)的磁阻的大小，來表示其覆層厚度。覆層越厚，則磁阻越大，磁通越小。利用磁感應(yīng)原理的測厚儀，原則上可以有導(dǎo)磁基體上的非導(dǎo)磁覆層厚度。一般要求基材導(dǎo)磁率在500以上。如果覆層材料也有磁性，則要求與基材的導(dǎo)磁率之差足夠大如鋼上鍍鎳。當(dāng)軟芯上繞著線圈的測頭放在被測樣本上時(shí)，儀器自動(dòng)輸出測試電流或測試信號(hào)。早期的產(chǎn)品采用指針式表頭，測量感應(yīng)電動(dòng)勢的大小，儀器將該信號(hào)放大后來指示覆層厚度。近年來的電路設(shè)計(jì)引入穩(wěn)頻、鎖相、溫度補(bǔ)償?shù)鹊匦录夹g(shù)，利用磁阻來調(diào)制測量信號(hào)。還采用-設(shè)計(jì)的集成電路，引入微機(jī)，使測量精度和重現(xiàn)性有了大幅度的提高幾乎達(dá)一個(gè)數(shù)量級(jí)。現(xiàn)代的磁感應(yīng)測厚儀，分辨率達(dá)到0.1um，允許誤差達(dá)1%，量程達(dá)10mm。磁性原理測厚儀可應(yīng)用來測量鋼鐵表面的油漆層，瓷、搪瓷防護(hù)層，塑料、橡膠覆層，包括鎳鉻在內(nèi)的各種有色金屬電鍍層，以及化工石油待業(yè)的各種防腐涂層。
三． 電渦流測量原理鍍層厚度分析儀
高頻交流信號(hào)在測頭線圈中產(chǎn)生電磁場，測頭靠近導(dǎo)體時(shí)，就在其中形成渦流。測頭離導(dǎo)電基體愈近，則渦流愈大，反射阻抗也愈大。這個(gè)反饋?zhàn)饔昧勘碚髁藴y頭與導(dǎo)電基體之間距離的大小，也就是導(dǎo)電基體上非導(dǎo)電覆層厚度的大小。由于這類測頭專門測量非鐵磁金屬基材上的覆層厚度，所以通常稱之為非磁性測頭。非磁性測頭采用高頻材料做線圈鐵芯，例如鉑鎳合金或其它新材料。與磁感應(yīng)原理比較，主要區(qū)別是測頭不同，信號(hào)的頻率不同，信號(hào)的大小、標(biāo)度關(guān)系不同。與磁感應(yīng)測厚儀一樣，渦流測厚儀也達(dá)到了分辨率0.1um，允許誤差1%，量程10mm的高水平。
采用電渦流原理的測厚儀，原則上對(duì)所有導(dǎo)電體上的非導(dǎo)電體覆層均可測量，如航天---表面、車輛、家電、鋁合金門窗及其它鋁制品表面的漆，塑料涂層及陽極氧化膜。覆層材料有一定的導(dǎo)電性，通過校準(zhǔn)同樣也可測量，但要求兩者的導(dǎo)電率之比至少相差3-5倍如銅上鍍鉻。雖然鋼鐵基體亦為導(dǎo)電體，但這類任務(wù)還是采用磁性原理測量較為合適。
登錄后臺(tái)
