深圳市鴻怡電子有限公司為您提供廠家開模晶振3225-4pin晶振老化座3.2*2.5翻蓋探針頻率測試座。3.2*2.5-4pin晶振探針老化座
產(chǎn)品簡介
a、產(chǎn)品用途:老化座、測試座，對32253.2*2.5的ic芯片進行高低溫老化測試
b、適用封裝: 3225(3.2*2.5)-4pin晶振探針老化座
c、采用雙觸點技術(shù)，接觸更穩(wěn)定、體積小。
d、采用特殊的工程塑膠，強度高、-、阻抗小、彈性好
e、鍍金層加厚，觸點加厚電鍍，-接觸阻抗、高-度，使用壽命翻蓋結(jié)構(gòu)20000次
f、我司可提供規(guī)格書布板圖資料，pdf檔\cad
規(guī)格尺寸
a、型號: 32253.2*2.5-4pin
b、腳位:4
c、芯片尺寸:3.2*2.5
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