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| 型號:jx072848 | 型號:jx072847lt-200aled加速老化與壽命測試系統 |
3、穆棱jx072848lt-200aled加速老化與壽命測試系統jx072847-內容
型號:jx072848
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用于led熱阻、led參考熱阻、led結溫以及led電性能參數的分析測量,具有測量精度高、響應速度快等特點。
主要參考 準
1、eia/jesd 51-1~14 integrated circuits thermal measurement method
2、mil-std-750d test method for semiconductor device
3、sj 20788-2000 半導體二極管熱阻測試方法
4、gb/t 4023-1997 半導體器件分立器件和集成電流第二部分:整流二極管
5、qb/t 4057-2010 普通照明用發光二極管性能要求
可測量參數
1、熱阻、參考熱阻、結溫、光功率
2、正向電壓、正向電流
3、加熱曲線、降溫曲線
4、不同電流下的結溫電壓k系數
5、led 電流-電壓特性曲線、結壓-時間、結溫-時間曲線、瞬態熱阻曲線等
6、光、色、熱、電綜合性能分析
7、配置熱測試分析軟件,---解析led的分層熱阻結構
led的結溫和熱阻
led熱阻是熱流路徑導熱特性的主要衡量指 ,熱阻結構是指被測器件熱流路徑上的熱阻分布,如圖所示的led器件,其傳遞總熱阻一般由三部分構成:芯片到金屬基板的熱阻+金屬基板到系統的熱阻+系統到周圍環境的熱阻。
led熱阻結構分析
tra-200配置的分析軟件自動轉化升溫或降溫曲線數據,得到led的瞬態熱阻曲線,并通過建立有限元模型,得到積分及微分熱結構函數,微分結構函數上的各尖峰所對應的橫坐 即為熱流路徑上各部件至pn結的熱阻值。利用tra-200進行結構函數的分析可以獲得led精細的熱阻結構,從而客觀評價led器件的散熱和熱管理水平,為led的散熱設計提供 的驗證。
欄目頁面:壽命測試
來源網址:型號:jx072847lt-200aled加速老化與壽命測試系統
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用于單顆led、led模組的常規老化、加速老化、光通維持特性試驗、溫度特性試驗、壽命試驗等,并具備led壽命推算及預估功能。滿足美國“能源之星”lm-80 準及其他相關 準。
用于單顆led、led模組的常規老化、加速老化、光通維持特性試驗、溫度特性試驗、壽命試驗等,并具備led壽命推算及預估功能。滿足美國“能源之星”lm-80 準及其他相關 準。
主要技術指 :
190工位led同時試驗,---;
2可調溫恒溫試驗箱溫度控制范圍:-20℃--+150℃
3溫度波動度:&plun;0.5℃;
4測溫精度:&plun;1℃,分辨率:0.1℃
5光度線性: 0.2%;
6光度復現性: 0.3%;
7光纖耐溫:-20℃--+150℃;
8光譜分析波長范圍:380nm-780nm;
9顏色測量重復性:&plun;0.0002x,y。
欄目頁面:壽命測試來源網址:加速老化與壽命測試系統
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