蘇州科蒂斯懷特工業(yè)設(shè)備有限公司為您提供供應(yīng)英國(guó)馬爾文帕納科納米粒度及電位分析儀zetasizer pro。產(chǎn)品描述
zetasizer pro是一款功能---、用途廣泛的常規(guī)實(shí)驗(yàn)室測(cè)量解決方案，可測(cè)量顆粒粒度、分子大小、電泳遷移率、zeta 電位和分子量。 與以往型號(hào)相比，其粒度測(cè)量速度超過(guò)以往的兩倍，---加快了樣品處理速度。
由于采用非侵入背散射 (nibs) 光學(xué)設(shè)計(jì)，該技術(shù)將背散射檢測(cè)技術(shù)與可變測(cè)量位置和---光纖技術(shù)結(jié)合在一起，與傳統(tǒng)dls相比，---增加了樣品濃度范圍和粒度的測(cè)量范圍。
濾光片轉(zhuǎn)盤提供熒光濾光片以及垂直和水平偏振片，以實(shí)現(xiàn)分析靈活性。
特點(diǎn)和優(yōu)點(diǎn)
憑借以下優(yōu)勢(shì)，即使剛?cè)腴T的用戶也能使用 zetasizer pro 完成高的測(cè)量：
動(dòng)態(tài)光散射 (dls) 用于測(cè)量從0.3 nm 到 10 μm 的顆粒和分子的粒度及粒度分布
電泳光散射 (els) 用于測(cè)量顆粒和分子的zeta電位，以顯示樣品穩(wěn)定性和/或團(tuán)聚傾向性
非侵入背散射 (nibs) 技術(shù)---擴(kuò)大了動(dòng)態(tài)范圍，即使是處理非常濃縮的樣品，也能實(shí)現(xiàn)高靈敏度
具有恒流模式的m3-pals可以在高導(dǎo)電介質(zhì)中測(cè)量zeta電位和電泳遷移率
以樣品為中心的zs xplorer軟件可以實(shí)現(xiàn)靈活的指導(dǎo)式使用，并可輕松構(gòu)建復(fù)雜的模型
“自適應(yīng)相關(guān)”算法能生成---且可重復(fù)的數(shù)據(jù)，同時(shí)計(jì)算速度超過(guò)以往的兩倍，可在減少樣品制備的情況下更快速地執(zhí)行更多可重現(xiàn)的粒度測(cè)量，實(shí)現(xiàn)更具代表性的樣品視圖
通過(guò)---學(xué)習(xí)實(shí)現(xiàn)的數(shù)據(jù)系統(tǒng)可以評(píng)估粒度數(shù)據(jù)問題，并針對(duì)如何改進(jìn)結(jié)果提供明確的建議
濾光片轉(zhuǎn)盤提供熒光濾光片以及垂直和水平偏振片，以實(shí)現(xiàn)分析靈活性
如果您的需求發(fā)生改變，可現(xiàn)場(chǎng)升級(jí)到zetasizer ultra
可選的 mpt-3 自動(dòng)滴定儀可幫助研究 ph 值變化的影響
一系列可拋棄及可重復(fù)使用的樣品池可優(yōu)化不同樣品體積和濃度的測(cè)量
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