濟(jì)南創(chuàng)譜儀器有限公司為您提供加熱探針臺(tái)恒溫調(diào)整樣品臺(tái)v測(cè)試光電分析高溫探針臺(tái)!魌dr系列探針臺(tái)包括探針臺(tái)面板,探針架,,恒溫樣品臺(tái),樣品位移系統(tǒng),顯微成像系統(tǒng)等組成,模塊化設(shè)計(jì),后期方便升級(jí)滿(mǎn)足不同應(yīng)用要求
◆可用于12寸以?xún)?nèi)樣品測(cè)試
◆探針位移分辨率3μm,樣品xyzr四維調(diào)節(jié)
◆兼容多種光學(xué)顯微鏡,可以引入光路,完成光電mapping測(cè)試
◆探針采用交叉滾珠導(dǎo)軌,線(xiàn)性移動(dòng),無(wú)回程差設(shè)計(jì)
◆pid控溫,可加熱至300℃,控溫精度±1℃,有效區(qū)域溫度均勻性±5℃
◆1微米以上電極/pad使用
◆加寬探針架,可以放置6個(gè)dc探針座/4個(gè)rf探針座
◆全系列搭配顯微鏡xy精密移動(dòng)功能,可以選配多種位移行程以及驅(qū)動(dòng)形式
◆多被用于科研院校搭建測(cè)試系統(tǒng),例:材料電學(xué)測(cè)試系統(tǒng)、光電探測(cè)器光電響應(yīng)系統(tǒng)、光電mapping測(cè)試系統(tǒng)、憶阻器與神經(jīng)元系統(tǒng)等
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