蘇州西博三維科技有限公司為您提供掃描電鏡冷熱原位拉伸測試系統，自主研發可定制。冷熱原位拉伸測試系統主要應用于小尺度的相關的生物、金屬、陶瓷、涂層、玻璃、有機聚合物、纖維等各種材料研究，可實現溫度環境為-190-600℃，溫控精度±0.1℃，載荷5000n。 冷熱原位拉伸測試系統通過實時獲取材料動態載荷下，形變和溫度等數據，并結合dic或視頻引伸計、電學測試系統聯用進行的材料微觀結構分析數據，實現了定量分析材料微觀力學性質、相變行為、取向變化、裂紋萌生和擴展、材料疲勞和斷裂、材料彎曲、高溫蠕變、分層、形成滑移面以及脫落以及形變、相變過程中的電學性能等，實現各種材料性能的研究。
1. 主要應用領域
1) 金屬材料：金屬材料、鍍層結合情況、高低溫應力應變及織構變化；
2) 復合材料：復合材料高低溫下分層、滑移、強度等；
3) 高分子聚合物：高低溫下聚合物應力應變、泊松比、楊氏模量，以及塑性流動、相變、形變及失效機制。
4) 脆性材料：高低溫下脆性材料微小裂縫的起源及鈍化現象。
5) 柔性材料及電子元器件：高低溫下柔性材料及電子元器件的強度、變形、電學性能等。
2. 產品主要技術特點
1) 載荷范圍5000n，精度0.5%；
2) 適配多種夾具，可實現拉伸、壓縮、彎曲、剪切等測試；
3) 拉伸速率2-1000um/s，可編程控制；
4) 變溫范圍寬，可定制-190-600℃環境，溫控精度±0.1℃；
5) 兼容性好，可與光學顯微鏡、dic和視覺引伸計聯用；
6) 軟件界面提供了實時應力應變曲線；
7) 與dic或視覺引伸計聯用，支持同步圖像和數據采集，可以通過應力應變對樣品變化過程進行細節分析。
8) 電學探針模塊，可實現樣品變溫、拉伸的電學性能測試。
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