3d相位掃描測量法是一種基于現(xiàn)有光學(xué)計量的技術(shù)，一大---在于具有旋轉(zhuǎn)和縮放功能的3d相位掃描，為對象的大小和形狀提供了指示。它將線形光線投射到被檢區(qū)域表面進(jìn)行光柵掃描，并用具有高光學(xué)器件的---機(jī)這個線形模式，然后用專有算法處理圖像，威薩內(nèi)窺鏡公司，得到缺陷面的三維點云圖，并清晰呈現(xiàn)缺陷的三維形狀與幾何尺寸。然后將之與測量結(jié)合使用，獲得更多有關(guān)缺陷或者被測對象的準(zhǔn)確信息，不僅方便操作者做出準(zhǔn)確的決策，而且僅用一個測量鏡頭即可完成觀察和測量，無需更換鏡頭和重新定位缺陷，---簡化了內(nèi)窺鏡測量過程的復(fù)雜度，節(jié)省工作時間，提高檢測效率。
隨后工業(yè)內(nèi)窺鏡出現(xiàn)的雙物鏡立體測量法是真正擺脫了鏡頭垂直于被測物表面---的法測量模式，其測量鏡頭利用左右2個物鏡成像的夾角差異的識別與計算，它可以實現(xiàn)以任何角度拍攝被測物表面，收集圖像信息，進(jìn)行多種測量功能并獲取準(zhǔn)確的數(shù)據(jù)。也因此，雙物鏡測量法被冠以“立體”二字。
為---測量誤差在5%范圍內(nèi)，在使用工業(yè)內(nèi)窺鏡中雙物鏡立體測量時較低的放大倍數(shù)應(yīng)不小于5倍，較佳放大倍數(shù)為10倍以上，這也決定了鏡頭離被觀測物體表面的距離一般在15mm以內(nèi)。
另外，由于雙物鏡立體測量畫面在工業(yè)內(nèi)窺鏡顯示屏上被分割成左右2個視窗，這也決定了相對于單物鏡視窗該測量方法所能測得的尺寸范圍比較小。一般認(rèn)為，10mm以下的缺陷尺寸可以進(jìn)行準(zhǔn)確測量誤差---在5%以內(nèi)，而10~20mm缺陷尺寸的測量誤差比較大，20mm以上的缺陷尺寸測量基本精度不---，僅作參考。
目前市場上工業(yè)內(nèi)窺鏡的照明技術(shù)主要分為兩種︰前置光源和后置光源。
前置光源技術(shù)，光源通常直接裝在鏡頭上，例如采用貼片的方式，德國威薩內(nèi)窺鏡公司，不用通過光纖或者光纖束傳遞光信號，目前國產(chǎn)內(nèi)窺鏡和部分進(jìn)口內(nèi)窺鏡品牌大部分采用的是前置光源技術(shù)。這種光源技術(shù)，主機(jī)成本低，但是鏡頭成本較高，因為集成了光源的緣故，德國威薩內(nèi)窺鏡公司，而且由于鏡頭直徑通常不足10毫米，狹小的空間---了光源功率不可能太大，導(dǎo)致無法看清被檢對象或者成像清晰度受到一定影響。
后置光源技術(shù)，光源后置在主機(jī)里，通過成像光纖傳遞光信號，在鏡頭上設(shè)置有出光口達(dá)到照明的目的。這種光源照明技術(shù)，內(nèi)窺鏡公司，主機(jī)成本略高，鏡頭成本相對低一些，主要應(yīng)用于比較專屬的進(jìn)口工業(yè)內(nèi)窺鏡品牌上。后置光源的照明方式，由于光源位于主機(jī)里，沒有空間上的---，因此可以采用大功率光源，---照明的亮度，從而---了圖像清晰度。
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