非接觸式膜厚檢測(cè)儀—廣州景頤光電科技有限公司是一家專門做膜厚儀的廠家
選擇涂層測(cè)厚儀的方法
涂層測(cè)厚儀需要根據(jù)實(shí)際的情況來(lái)進(jìn)行選擇
1、根據(jù)被測(cè)材料大小選擇
測(cè)量常規(guī)平面，凹槽等材料的涂層厚度，可以使用一體式或者分體式涂層測(cè)厚儀。被測(cè)物如果比較小，如螺絲、螺帽以及異型材料，可以使用探針式的表面涂層測(cè)厚儀。為了測(cè)量的準(zhǔn)確性也可以配合手壓測(cè)試機(jī)架進(jìn)行測(cè)試。
2、根據(jù)測(cè)量場(chǎng)合選擇
被測(cè)物表面平整且空間大的話，非接觸式膜厚檢測(cè)儀價(jià)位，可以使用主機(jī)與測(cè)頭一體式的涂層測(cè)厚儀，如果測(cè)量空間比較狹小，可以使用分體式設(shè)計(jì)的涂層測(cè)厚儀。
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影響涂層測(cè)厚儀測(cè)量精度的因素：
1、基體金屬磁性質(zhì)?在熱處理和冷加工的過(guò)程中，部分基體金屬磁性性質(zhì)會(huì)發(fā)生變化，非接觸式膜厚檢測(cè)儀廠家，應(yīng)當(dāng)在測(cè)試之前使用與試件基體金屬具有相同性質(zhì)的標(biāo)準(zhǔn)片對(duì)儀器進(jìn)行校準(zhǔn)；也可用待涂覆試件進(jìn)行校準(zhǔn)。
2、基體金屬電性質(zhì)在熱處理過(guò)程中，不同的基體金屬導(dǎo)電性會(huì)發(fā)生不一樣的變化，從而使基體金屬電性質(zhì)產(chǎn)生變化，臺(tái)州非接觸式膜厚檢測(cè)儀，應(yīng)當(dāng)在測(cè)試之前使用與試件基體金屬具有相同性質(zhì)的標(biāo)準(zhǔn)片對(duì)儀器進(jìn)行校準(zhǔn)。
3、基體金屬厚度每一種儀器都有一個(gè)基體金屬的臨界厚度。大于這個(gè)厚度，測(cè)量就不受基體金屬厚度的影響。
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膜厚儀的特點(diǎn)有哪些
膜厚儀是薄膜厚度測(cè)量?jī)x的簡(jiǎn)稱，是一種用來(lái)在線并定量的測(cè)量透光或者半透光的各種薄膜厚度的儀器儀表，通常采用光干涉原理測(cè)量薄膜厚度。
軟件操作簡(jiǎn)單，測(cè)速快：膜厚測(cè)量?jī)x操作非常簡(jiǎn)單，非接觸式膜厚檢測(cè)儀批發(fā)，測(cè)量速度快：100ms-1s.
軟件帶有構(gòu)建材料結(jié)構(gòu)的拓展功能，可對(duì)單/多層薄膜數(shù)據(jù)進(jìn)行擬合分析，可對(duì)薄膜材料進(jìn)行預(yù)先模擬設(shè)計(jì).
軟件帶有可升級(jí)的掃描功能，進(jìn)行薄膜二維的測(cè)試，并將結(jié)果以2d或3d的形式顯示.軟件其他的升級(jí)功能還包括在線分析軟件，遠(yuǎn)程控制模塊等
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